分析：smart中，0E的产生主要是由于，老化快出现，颗粒电子丢失造成数据不完整或损坏，而03的减少是主控自主的完成了WL（磨损均衡），是年轻块（备用块OP）替代老化快的过程。
初步处理方案
第一类：对于原厂盘（无法开卡做RDT）既采用txbench做几次trim，也可以用有同样功能的或原厂软件去做，做完后主控固件会自动进行WL（前提是你的固件具备WL功能，这种基础功能大多数固件是有的），做完后使用几天，观察，如果0E不再增加，03减少，可以继续使用，如果0E依然增加，请售后。
第二类：对于杂牌或可开卡做RDT的盘，可以自行学习固态硬盘RDT，将老化快标识，踢进OP，降低少部分容量清smart，根治0E问题。
友情提示：第一类方案人畜无害，不行走售后，没售后的节哀顺变。第二类方案可根治，但操作需谨慎，风险自负。以上浅见，不喜勿喷！